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SPECTRA-QT 成像传感器量子效率测试光源

发布日期: 2021-04-12
访问量: 21
Spectra-QT成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源,用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率,线性度,像素和模块。
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SPECTRA-QT 成像传感器量子效率测试光源

Large Spheres

对于图像传感器行业而言,精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的,一个良好特性的传感器可以和调整输入滤波后的光谱,增强修正终端产品的使用性能。

Spectra-QT成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源,用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率,线性度,像素和模块。

测量参数:

  • 量子效率
  • 光谱响应率
  • 线性度

特点:

  • 超高的光照强度和超大的动态范围,能够满足各种传感器的量子效率测试需求
  • 输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源,确保传感器测试结果的一致性。
  • 光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院(NIST
  • 提供软件开发包,能够满足客户各种自定义测试流程开发需要

主要规格参数

光谱辐照度光谱辐亮度
波长范围:375 - 1100 nm375 - 1100 nm
光谱带宽:5 nm to10 nm5 nm to10 nm
波长准确度:0.6 nm0.6 nm
开口孔径尺寸:29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mmN/A
400 nmZ大光谱辐照度:12 mW/cm232 mW/cm2-sr
600 nmZ大光谱辐照度:21 mW/cm254 mW/cm2-sr
800 nmZ大光谱辐照度:5 mW/cm211 mW/cm2-sr
550 nm稳定性: (UV-VIS 光源)< 1.5% over 5 sec period< 1.5% over 5 sec period
750 nm稳定性: (VIS-NIR 光源)< 0.05% over 5 sec period< 0.05% over 5 sec period
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